5 просмотров
НИИ электронной техники в период с 25 по 27 октября представит новые разработки в области испытательного оборудования на стенде №113 Международной выставки Testing&Control. Технические характеристики разрабатываемой камеры позволят использовать ее для проведения испытаний ЭКБ по методу 205-3 согласно ГОСТ РВ 5962-004.2-2012, а также для испытаний на воздействие теплового удара полупроводниковых приборов и других электронных компонентов, предназначенных для гражданского сектора экономики, в том числе для применения в системах управления воздушным движением, медицинской, сельскохозяйственной, железнодорожной технике, автоэлектронике, аппаратуре для атомной промышленности, в информационных и телекоммуникационных системах и пр. По вопросам приобретения оборудования – +7(499) 404-29-11, [email protected] По техническим вопросам – +7 (473) 280-23-12, [email protected]