Комбинация АСМ и оптических методик: новые достижения и приложения

YOUTUBE · 28.11.2025 03:53

Ключевые темы и таймкоды

Комбинация оптических методик и сканирующей зондовой микроскопии

0:56

Презентация продуктовой линейки компании, включающей атомно-силовые микроскопы, автоматизированные и с дополнительными устройствами.
Интеграция конфокального романовского микроскопа с зондовыми методами.
Интеграция с спектрометрами различных производителей, включая Хариба Сантифик, Диксар Термо Фишер Сантифик и Рениш.

Примеры использования и возможности

6:53

Использование лавинных фотодиодов для быстрого съема сигнала.
Примеры чувствительности и использования объемных бреговских фильтров для подавления линии лазера.
Определение количества слоев в многослойных структурах по спектрам комбинационного рассеяния.

Примеры применения

11:12

Получение изображений люминесцентного и комбинационного рассеяния одновременно.
Определение структуры полупроводников по фотолюминесценции и комбинационному рассеянию.
Идентификация композитных пленок и полимеров по спектрам комбинационного рассеяния.

Применение фотолюминесценции и комбинационного рассеяния

15:19

На силовом микроскопе видны бактерии, окруженные пленкой, но сложно судить о их состоянии.
Фотолюминесценция и комбинационное рассеяние позволяют определить, что бактерии живы и вырабатывают бета-каротин.
С помощью фотолюминесценции и комбинационного рассеяния можно отличить живые бактерии от мертвых.

Исследование био-деградации углеродных нанотрубок

17:07

Клетки иммунной системы нейтрофилы успешно переваривают углеродные нанотрубки.
Через восемь часов после поглощения нанотрубок, наблюдается спектр аморфного углерода.

Исследование покрытий магнитных жестких дисков

18:18

С помощью атомно-силовой микроскопии и комбинационного рассеяния, можно оценить качество защитных покрытий магнитных жестких дисков.
Структура покрытия не нарушена, но имеются дефекты.

Исследование скола фото для фото вальтайки

20:58

С помощью зондовой микроскопии и комбинационного рассеяния, можно определить качество многослойной структуры солнечной батареи.
Различные длины волн позволяют оценить качество работы батареи.

Идентификация одиночных моно-алмазов на поверхности

22:07

С помощью атомно-силовой микроскопии и комбинационного рассеяния, можно идентифицировать одиночные моно-алмазы на поверхности.
По форме пика можно определить, является ли источник излучения одиночным или несколькими.

Интеграция атомно-силовой микроскопии и конфокальной микроскопии

24:56

Интеграция атомно-силовой микроскопии и конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния позволяет повысить пространственное разрешение.
Плазмонный эффект усиливает электрическое поле на острие зонда, что приводит к усилению оптического рассеянного сигнала.

Спектры одиночных молекул ДНК

32:51

Спектры одиночных молекул ДНК могут быть получены с использованием ионов магния или специфического вещества.
Усиление в терс составляет порядка десяти раз.

Тонкие пленки и дефекты

34:04

Тонкие пленки, такие как чешуйки ди-селенида вольфрама, могут быть исследованы с разрешением до 40 нанометров.
Дефекты на таких пленках излучают сильную линию в районе 420-450 обратных сантиметров.

Прыжковая микроскопия

36:06

Прыжковая микроскопия позволяет эффективно сканировать слабо закрепленные образцы, такие как оксид графена.
Разрешение методики составляет порядка 10 нанометров.

Плазмонные структуры

40:55

Плазмонные структуры могут быть исследованы с помощью ближнепольной оптической микроскопии.
Интенсивность оптического сигнала должна быть достаточно высокой для получения информации о плазмоных структурах.

Квантовые точки

45:15

Квантовые точки могут быть исследованы с помощью ближнепольной микроскопии с использованием волоконного или конверного сна.
Разрешение составляет порядка 100 нанометров.

Комбинированные системы

48:41

Получены карты интенсивности по икс игрек к срезу для изучения перехода из ближней зоны в дальнюю.
Состав и модовый состав излучения можно вычислить по соотношению интенсивности на поверхности.

Преимущества комбинации

50:12

Атомно-силовой и романовский микроскопы позволяют получать информацию о физических, химических и структурных свойствах поверхности.
Разрешение атомно-силового микроскопа составляет один на метр, до одного нанометра.
Романовский микроскоп имеет разрешение до 200-400 на метр по плоскости икс- игрек.

Применение и ограничения

51:30

Атомно-силовые зонды для работы в гэп-моде, с гарантированными свойствами и временем жизни несколько месяцев.
Опературные методы ограничения по разрешению составляют порядка 100 на метров для ближнего ика диапазона.

Вопросы и ответы

53:46

Реализационная функция измеряется с помощью интегрального метода, который позволяет построить карту распределения функции.
Апертурные зонды производятся с помощью резки фокусированным юным пучком, затем покрытие алюминием и дрилинг.