Введение в рентгеновскую фотоэлектронную спектроскопию (XPS)

YOUTUBE · 26.11.2025 07:06

Ключевые темы и таймкоды

Введение в метод рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)

0:00

XPS основан на фотоэлектрическом эффекте, когда рентгеновские лучи низкой энергии выбрасывают электроны из твердого образца.
XPS позволяет определить энергию связи электронов с ядром, что дает информацию о составе материала.

Применение XPS

5:16

XPS используется для изучения химии поверхности и приповерхностного пространства, особенно в катализе, адгезии и создании тонких пленок.
XPS может обнаруживать большинство элементов периодической таблицы, и он количественно определяет концентрацию элементов без использования стандартов.

Преимущества и недостатки XPS

7:39

Преимущества: высокая чувствительность к поверхности, количественная оценка, возможность анализа изоляционных образцов.
Недостатки: низкое пространственное разрешение, не может обнаружить водород, не подходит для всех типов образцов.

Применение XPS в различных областях

8:14

XPS используется в катализе, адгезии, создании тонких пленок, изучении химии поверхности и приповерхностного пространства.
XPS имеет гибкую методику анализа, может анализировать пленки, порошки, волокна и сыпучие материалы.
Время анализа варьируется от нескольких минут до нескольких часов, в зависимости от типа информации и образца.